Hizmet İçeriği
IC, önemli bir otomotiv bileşeni olarak, AEC komitesi için sürekli dikkat gerektiren önemli bir alandır. AEC-Q100'ün IC'ler üzerindeki güvenilirlik testi, hızlandırılmış çevresel stres güvenilirliği, hızlandırılmış yaşam simülasyonu güvenilirliği, paketleme güvenilirliği, gofret işlemi güvenilirliği, elektrik parametresi doğrulaması, kusur taraması, paketleme bütünlüğü testi olarak alt bölümlere ayrılabilir ve test koşullarının cihazın dayanabileceği sıcaklık seviyesine göre seçilmesi gerekir.
DoğrulanmasıAEC-Q100 sertifikasyon testigofret tedarikçileri ve paketleme ve test fabrikalarının işbirliğini gerektirir, bu da sertifikasyon testinin genel kontrol yeteneğini daha da test eder. RGT, müşterilerin IC'lerini gereksinimlerine ve standartlarına göre değerlendirecek ve IC'lerin güvenilirlik sertifikasyonuna yardımcı olmak için makul bir sertifikasyon planı sağlayacaktır.
Test Döngüsü
Yaklaşık 3-4 ay.
Test Öğeleri
|
S/N |
Test Öğesi |
Kısaltma |
Örnek Numarası/Parti |
Parti Numarası |
Test metodu |
|
Grup A Hızlandırılmış Çevresel Stres Testi |
|||||
|
A1 |
Ön koşullandırma |
Bilgisayar |
77 |
3 |
J-STD-020, |
|
JESD22-A113 |
|||||
|
A2 |
Sıcaklık-Nem-Önyargı |
Tayland Bahtı |
77 |
3 |
JESD22-A101 |
|
Önyargılı HAST |
HIZLI |
JESD22-A110 |
|||
|
A3 |
Otoklav |
AC |
77 |
3 |
JESD22-A102 |
|
Tarafsız HAST |
UHST (Üfürük |
JESD22-A118 |
|||
|
Sıcaklık-Nem (Önyargısız) |
LİK |
JESD22-A101 |
|||
|
A4 |
Sıcaklık Döngüsü |
TC |
77 |
3 |
JESD22-A104,Ek 3 |
|
A5 |
Güç Sıcaklık Döngüsü |
PTC (Gümrük Vergisi |
45 |
1 |
JESD22-A105 |
|
A6 |
Yüksek Sıcaklık Depolama Ömrü |
HST |
45 |
1 |
JESD22-A103 |
|
Grup B Hızlandırılmış yaşam simülasyon testi |
|||||
|
B1 |
Yüksek Sıcaklık Çalışma Ömrü |
HTOL (Türkçe) |
77 |
3 |
JESD22-A108 |
|
B2 |
Erken Yaşam Başarısızlık Oranı |
ELFR (İngilizce) |
800 |
3 |
AEC-Q100-008 |
|
B3 |
NVM Dayanıklılığı, Veri Saklama ve İşletim Ömrü |
EDR |
77 |
3 |
AEC-Q100-005 |
|
Grup C Kapsülleme bütünlük testi |
|||||
|
C1 |
Tel Bağ Kesme Makası |
İKY |
En az 5 cihazda 30 adet bağlama teli |
AEC-Q100-001,AEC-Q003 |
|
|
C2 |
Tel Bağlantı Çekme |
WBP (Yeni Doğa) |
MIL-STD883 yöntemi 2011, |
||
|
AEC-Q003 Serisi |
|||||
|
C3 |
Lehimlenebilirlik |
SD |
15 |
1 |
JESD22-B102 veya J-STD-002D |
|
C4 |
Fiziksel Boyutlar |
PD |
10 |
3 |
JESD22-B100, JESD22-B108 |
|
AEC-Q003 Serisi |
|||||
|
C5 |
Lehim Topu Makası |
SBS |
10 cihaz için en az 5 bağlama topu |
3 |
AEC-Q100-010, |
|
AEC-Q003 Serisi |
|||||
|
C6 |
Kurşun Bütünlüğü |
Lİ |
En az 5 cihaz için 10 potansiyel müşteri |
1 |
JESD22-B105 |
|
Grup D Wafer üretim güvenilirlik testi |
|||||
|
D1 |
Elektromigrasyon |
E.M. |
/ |
/ |
/ |
|
D2 |
Zamana Bağlı Dielektrik Arıza |
TDDB (Anonim Bilişim Teknolojileri |
/ |
/ |
/ |
|
D3 |
Sıcak Taşıyıcı Enjeksiyonu |
İnsan-bilgisayar etkileşimi |
/ |
/ |
/ |
|
D4 |
Negatif Önyargı Sıcaklık Kararsızlığı |
NBTI (NBTI) |
/ |
/ |
/ |
|
D5 |
Stres Göçü |
S.M. |
/ |
/ |
/ |
|
Grup E Elektriksel doğrulama testi |
|||||
|
E1 |
Ön ve Son Gerilim Fonksiyonu/Parametresi |
ÖLÇEK |
Elektriksel testlerde stres testi için gerekli tüm numuneler |
Tedarikçi veya kullanıcı özellikleri |
|
|
E2 |
Elektrostatik Deşarj İnsan Vücudu Modeli |
YBM |
Referans Test Spesifikasyonu |
1 |
AEC-Q100-002 |
|
E3 |
Elektrostatik Deşarj Şarjlı Cihaz Modeli |
CDM |
Referans Test Spesifikasyonu |
1 |
AEC-Q100-011 |
|
E4 |
Mandallama |
LU |
6 |
1 |
AEC-Q100-004 |
|
E5 |
Elektrik Dağıtımları |
YETİŞTİRİLMİŞ |
30 |
3 |
AEC Soru100-009 |
|
AEC Q003 |
|||||
|
E6 |
Hata Derecelendirmesi |
FG |
- |
- |
AEC-Q100-007 |
|
E7 |
Karakterizasyon |
ÇAR |
- |
- |
AEC-Q003 Serisi |
|
E9 |
Elektromanyetik uyumluluk |
EMC |
1 |
1 |
SAE J1752/3- |
|
E10 |
Kısa Devre Karakterizasyonu |
Güney Karolina |
10 |
3 |
AEC-Q100-012 |
|
E11 |
Yumuşak Hata Oranı |
SER (Türkçe) |
3 |
1 |
JEDEK |
|
JESD89-1 |
|||||
|
JESD89-2 veya JESD89-3 |
|||||
|
E12 |
Kurşunsuz (Pb) |
EĞER |
Referans Test Spesifikasyonu |
Referans Test Spesifikasyonu |
AEC-Q005 Serisi |
|
Grup F Kusur tarama testi |
|||||
|
F1 |
Süreç Ortalama Testi |
PAT (Kırık Ateş |
/ |
/ |
AEC-Q001 Serisi |
|
F2 |
İstatistiksel Bin/Verim Analizi |
Küçük ve Orta Ölçekli İşletmeler İdaresi |
/ |
/ |
AEC-Q002 Serisi |
|
Grup G Sızdırmazlık ve ambalaj bütünlüğü testi |
|||||
|
G1 |
Mekanik şok |
HANIM |
15 |
1 |
JESD22-B104 |
|
G2 |
Değişken Frekanslı Titreşim |
VFV |
15 |
1 |
JESD22-B103 |
|
G3 |
Sabit hızlanma |
CA |
15 |
1 |
MIL-STD883 Yöntemi 2001 |
|
G4 |
Brüt/İnce Sızıntı |
GFL (Cesaret Numarası |
15 |
1 |
MIL-STD883 Yöntem 1014 |
|
G5 |
Paket Bırakma |
DÜŞÜRMEK |
5 |
1 |
/ |
|
G6 |
Kapak Torku |
LT |
5 |
1 |
MIL-STD883 Yöntemi 2024 |
|
G7 |
Kalıp Kesme |
DS |
5 |
1 |
MIL-STD883 Yöntemi 2019 |
|
G8 |
İç Su Buharı |
IWV (İngilizce) |
5 |
1 |
MIL-STD883 Yöntem 1018 |
Popüler Etiketler: aec-q100 sertifikasyon testi, Çin aec-q100 sertifikasyon test hizmeti sağlayıcısı, Öğrenme ortamını teşvik etmek için başarısızlık analizi, İş hedeflerine ulaşmak için başarısızlık analizi, Küçük işletmeler için başarısızlık analizi, Çevreyi korumak için başarısızlık analizi, Tedarik Zinciri Arıza Analizi, Yasal gereksinimlere uymak için başarısızlık analizi
