Günümüzde yüksek teknoloji teknolojisinin hızlı geliştirilmesinde, elektronik ekipmanın temel bileşeni olarak, yongaların performansı ve kalitesi doğrudan ürünlerin rekabet gücü ve pazar performansı ile ilişkilidir.
Bununla birlikte, yarı iletken süreçlerin sürekli ilerlemesi ve çip işlevlerinin artan karmaşıklığı ile, her çipin katı performansı ve güvenilirlik gereksinimlerini nasıl karşılayabilmesinin nasıl sağlanacağından emin olun. Bu bağlamda, sistem düzeyinde test, kapsamlı ve simüle edilmiş test ortamı ile çip test alanında devrimci atılımlar getirmiştir.
1. SLT: yonga testi için yeni bir ölçüt
Sistem düzeyinde test, adından da anlaşılacağı gibi, simüle edilmiş terminal kullanım senaryolarında yongaların (DUT) ölçülmesinin kapsamlı bir test yöntemidir. Geleneksel otomatik test ekipmanı (ATE) ile karşılaştırıldığında, SLT artık tek fonksiyonel modüllerin veya çipin devre yapısının testi ile sınırlı değildir, ancak çipi modüllerin kooperatif çalışma yeteneğini ve genel performansını doğrulayan bir sistem olarak görür. Gerçek yazılım programını ve sistem işlemini çalıştırarak. Bu test yöntemi, kullanıcının gerçek kullanım deneyimine daha yakındır ve ATE testinde yakalanması zor potansiyel sorunları bulabilir, böylece çipin güvenilirliğini ve kullanıcı memnuniyetini önemli ölçüde artırır.
2. SLT'nin çekirdek güçlü yönleri
Kapsamlı Kapsam:Gerçek uygulama senaryolarını simüle ederek, SLT, her ayrıntının kaçırılmamasını sağlamak için çipin tüm fonksiyonel modüllerini kapsamlı bir şekilde test eder.
Verimli Simülasyon:Gelişmiş simülasyon teknolojisi ve test ekipmanı kullanan SLT, çeşitli periferik arayüzler, işletim sistemleri ve uygulama yazılımı dahil olmak üzere karmaşık terminal kullanım ortamını simüle edebilir, böylece test gerçeğe daha yakındır.
Derin içgörü:SLT sadece çipin donanım performansına odaklanmakla kalmaz, aynı zamanda donanım ve yazılımın işbirlikçi çalışmasında potansiyel sorunları bulabilen ve çip tasarımını optimize etmek için değerli veriler sağlayabilen yazılım ve donanımın etkileşim testine de odaklanır.
Güvenilirliği Artırın: Uzun süreli ve yüksek yük testleri ile SLT, çipin performansını aşırı koşullar altında ortaya çıkarabilir ve uzun vadeli kullanımının istikrarını ve güvenilirliğini etkili bir şekilde değerlendirebilir.
GRGTEST, sektör lideri bir uzman ekibi ve piyasadaki en gelişmiş GA FIB serisi ekipmanlarıyla entegre devre arıza analizi teknolojisine odaklanmaktadır. Müşterilere tam başarısızlık analizi ve test hizmetleri sağlayabilir, üreticilerin başarısızlıkları hızlı ve doğru bir şekilde bulmalarına ve başarısızlıkların temel nedenini bulmalarına yardımcı olabilir.